掃描電子顯微鏡（SEM）如何工作？

電子和電磁透鏡的光源來自放置在柱頂的鎢絲燈，與透射電子顯微鏡的鎢絲燈相似。
在將熱能施加到電子源后，電子會發射出來，并以快速運動的方式移動到陽極，陽極帶有正電荷。
電子束從樣品表面激活高能級的初級散射（主）電子和低能級的次級電子的發射。電子束與樣品相互作用產生信號，該信號給出有關樣品表面形貌和成分的信息。
樣品無需特殊處理即可在SEM下進行可視化，甚至可以直接檢查風干樣品。但是，微生物標本需要固定，脫水和干燥，以在暴露于高真空顯微鏡下時保持細胞的結構特征并防止細胞崩潰。
樣品被安裝并涂有薄層重金屬元素，以允許電荷在樣品表面上的空間散射，從而可以更好地產生具有較高清晰度的圖像。
通過在顯微鏡的薄部分上來回傾斜電子束來實現此顯微鏡的掃描。當電子到達標本時，表面會釋放出微小的電子aw，稱為二次電子，然后被特殊的檢測器捕獲。
當二次電子到達并進入探測器時，它們撞擊閃爍體（一種被帶電粒子或高能光子撞擊時發出熒光的發光材料）。這會發出閃光，然后通過光電倍增管將其轉換為電流，從而向陰極射線管發送信號。這將產生看起來像可以觀看和拍攝的電視圖像的圖像。
進入檢測器的二次電子的數量由樣品的性質高度定義，即凸起的表面接收大量的電子，進入檢測器，而凹陷的表面到達表面的電子更少，因此進入檢測器的電子更少。
因此，凸起的表面在屏幕上看起來更亮，而凹陷的表面在屏幕上看起來更暗。

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